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暖通環(huán)保
檢測儀
Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀
產品型號:
更新時間:2024-11-20
廠商性質:代理商
訪問量:345
4006981718
產品分類
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在化合物半導體基底和外延生長層上檢測和分類多種類型的晶體缺陷
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地圖和位置
缺陷數量
彩色編碼缺陷
缺陷尺寸